Appareil de mesure d'épaisseur de revêtement Fischerscope X-Ray XDVM-W Type : XDVM-T7-W Système : Rayons X Appareil certifié CE Année de fabrication : 2004 Le FISCHERSCOPE® X-RAY XDVM®-W permet de mesurer l'épaisseur et la composition d'alliage de tout système de revêtement métallique, y compris les revêtements mono-, binaires et ternaires, les revêtements doubles avec ou sans couche d'alliage, et les revêtements triples. Pour plus d'informations, consultez notre site web : https://www.plastingold.com/php/index.php?lang=it&cat=1040&prod=1317